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高阻型霍尔效应测试仪的技术参数

更新时间:2023-01-30 点击量:891

高阻霍尔效应测试系统JH60E技术指标:

* 磁 场:10mm 间距为 2T ;30mm 间距为 1T

* 样品电流:0.05uA~50mA(调节 0.1nA)

* 测量电压:0.1uV~30V

* 提供各类测试标准材料,各级别硅与砷化镓(灵敏度与精度不同)

* 最小分辨率:0.1GS

* 磁场范围:0-1T

* 配合高斯计或数采板可计算机通讯

* I-V 曲线及 I-R 曲线测量等

* 霍尔系数、载流子浓度等参数随温度的变化曲线

* 电阻率范围:5*10-4~108Ω.cm

* 电阻范围:10 mΩ-100GΩ

* 载流子浓度:6*108~1023cm-3

* 迁移率:1~106cm2/vs

* 控温精度: 0.1K

* 温区:4K-773K(选配)

* 霍尔系数:±1*10-5~±1*1010cm3/C

* 测试全自动化,一键处理

* 可实现相同温差间的连续测量

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各系统参数:

高精度电磁铁

极头直径 100mm;

N,S 间距 10mm 时*大磁场 20000Gs;

N,S 间距 20mm 时*大 13000 高斯;

N, S 间距 30mm 时*大磁场 10000 高斯;

均匀区:间距 60mm 时直径 10mm均匀度范围; 1%

自重 110 公斤 含支架及轮子

高精度双极性恒流电源

输出: ±10A±80V 功率;800W

① 电源输出电流可在正负额定*大电流之间连续变化

② 电流可以平滑过零点,非开关换向

③ 输出电流、电压四象限工作(适合感性负载)

④ 电流变化速率可设置范围为 0.0007~0.3 F.S./s(F.S.为额定*大输出电流)

※ 电流稳定度高,纹波低

①电流稳定度:优于±25ppm/h(标准型);优 于±5ppm/h(高稳型)

② 电流准确度:±(0.01%设定值+1mA)

③ 电流分辨率:20 bit,例 15A 电源,电流分辨率为 0.03mA

④ 源效应:≤ 2.0×10-5 F.S.(在供电电压变化 10%时,输出电流变化量)

⑤ 负载效应:≤ 2.0×10-5 F.S.(在负载变化 10%时,输出电流变化量)

⑥ 电流纹波(RMS):小于 1mA

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高精度高斯计:

精度:读数的±0.30% ;

分辨力:0.01mT 量程:0-3T ;

探头厚度:1.0mm ;

长度 100mm 数字;

Rs-232 接口数据读取软件配 GP3 型探头

高斯计探头支架及样品架 全铝非导磁支架 5-70mm 可调

样品架夹具(按要求定制)

霍尔效应系统软件 可数字化调节磁场及电流,测试各类材料参数

高温恒温器: (293K-470K)高低温真空容器

TESK301恒温仪: 控温(65k-600k)

真空泵 K25 真空泵

恒流源及测试表

恒流源量程:±50nA-±50mA;

分辨力 0.1nA 在量程范围内连续可调;

高精度电压数采仪范围 0. 1uV-30V

精度:0.01%

内置测试矩阵转换卡;

欧姆接触套件 根据不同材料的欧姆接触制作套件

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系统组成:

 高阻霍尔效应测试系统由电磁铁、真空泵、高温真空腔、高斯计、恒流源、电磁铁电流源、控温仪和计算机及软件组成。其中,电磁铁电流源给电磁铁提供电流产生磁场;高斯计测量电磁铁产生的均匀磁场值;恒流源一方面给样品提供样品测试电流,用于霍尔效应测试,一方面用来测量样品反馈的霍尔电压;被测样品置于高温真空腔中,由高温胶固定,并作为四个测试点;高温真空腔引出 4 根导线,两个连接控温仪进行温度的测量及控制,另 1 根是高温探头引线连接到高斯计上,还有 1 根是霍尔样片连接线连接到恒流源上;计算机连接高斯计、控温仪、恒流源和电磁铁电流源,通过软件实现控制通过被测样品的电流和磁场值,并获取测得的电压值。

可测试材料: Ø

半导体材料:SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和铁氧体材料等

低阻抗材料:石墨烯、金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR 材料等

高阻抗材料:半绝缘的 GaAs, GaN, CdTe 等




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