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高低温探针台主要分为哪几类
高低温探针台主要分为哪几类

高低温探针台是一种用于信息科学与系统科学领域的工艺试验仪器,主要用于测试不同环境、不同温度条件下微结构半导体器件、微电子器件及材料电学特性表征。根据功能和应用领域的不同,高低温探针台可以分为多种类型,包括但不限于以下分类:真空高低温探针台:这种探针台可以在真空环境下进行高低温测试...

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2026

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  • 探针台测试内容有哪些

    探针台为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台,探针台可吸附多种规格芯片,并提供多个可调测试针以及探针座,配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测,适用于对芯片进行科研分析,抽查测试等用途。根据测试样品分类:晶圆测试、LED测试、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、太阳能电池片测试、材料表面电阻率测试。根据应用分类:射频测试、高温环境测试、低电流(100fA*)测试、I-v/c-v/p-iv测试、高压,大电流测试、磁场环境测...

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    2026

    1.29
  • 射频探针的特点和应用领域

    射频探针是一种用于测量射频信号的测试工具,通常由针尖和探针本体组成。它能够与被测物接触,测量其射频信号的参数,例如频率、幅度、相位等。射频探针的特点主要包括:高精度测量:射频探针具有高精度的测量能力,能够准确测量射频信号的参数。快速响应:射频探针的响应速度很快,可以在很短的时间内完成测量。稳定性好:射频探针的测量稳定性很好,不易受到外界干扰的影响。应用广泛:射频探针可以用于各种不同的领域,例如无线通信、雷达、电子对抗等。应用领域方面,射频探针主要用于测试和测量各种电子设备和系...

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    2026

    1.28
  • 直流探针的应用领域

    直流探针是一种用于测试电路中直流电流和电压的测试工具。它通常由针尖和探针本体组成,能够与电路中的元器件接触,测量其直流电流和电压。直流探针的应用领域非常广泛,主要包括以下几个方面:电子产品的生产和测试:在电子产品的生产和测试阶段,直流探针被广泛应用于检测电路中的直流电流和电压,以确保产品的质量和性能。科学研究:在科学研究领域,直流探针可用于研究电路中各种元器件的电学特性,例如半导体器件、集成电路等。故障诊断和维修:当电路出现故障时,可以使用直流探针来检测故障点,帮助定位和修复...

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    2026

    1.28
  • 高低温探针台相应的参数说明

    高低温探针台是一种用于信息科学与系统科学领域的工艺试验仪器,主要用于测试不同环境、不同温度条件下微结构半导体器件、微电子器件及材料电学特性表征。以下为高低温探针台相应的参数说明。温度范围:指探针台能够提供的*低温度和*高温度范围,通常以开尔文(K)为单位。不同的高低温探针台具有不同的温度范围,适用于不同的测试需求。温度控制精度:指探针台对温度的控制精度,通常以摄氏度(℃)或开尔文(K)为单位表示。温度控制精度越高,测试结果越准确可靠。温度稳定性:指探针台在设定温度下能够保持温...

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    2026

    1.27
  • 磁场探针台的原理、构成和应用

    磁场探针台是一种用于测量磁场强度和方向的仪器,其原理和结构组成相对复杂。下面将详细讲述磁场探针台的原理、结构组成以及应用领域。一、磁场探针台的原理基于磁场传感器和测量技术。磁场传感器是一种能够感应磁场并转换为电信号的装置,常用的磁场传感器包括霍尔传感器、磁阻传感器等。当磁场传感器放置在待测磁场中时,它会受到磁场的作用并产生相应的电信号输出。通过测量这个电信号,可以推断出磁场的强度和方向。在磁场探针台中,磁场传感器通常被固定在支架上,并通过精*控制实现三维空间内的测量。通过测量...

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    2026

    1.27
  • 高低温探针台的主要构成

    高低温探针台是一种用于材料科学、物理、化学等领域的实验设备,主要用于在高温和低温环境下对材料进行各种实验和研究。下面是它的构造。一、主要包括以下几个部分:制冷系统:通常采用液氦或制冷机等制冷技术,将温度降低到极低的温度范围,以适应低温实验的要求。加热系统:为了在不同的温度下进行实验,高低温探针台通常配备有加热系统,例如电热丝或电阻炉等加热装置。温度控制系统:通常采用*进的温度控制系统,如PID控制器或模糊逻辑控制器等,以实现对温度的*确控制和稳定。探针台:通常配备有各种类型的...

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    2026

    1.26
  • 探针台在半导体行业有什么用途

    探针台作为半导体制造与测试的核心设备,凭借其精密定位能力和多环境适配特性,为芯片研发、生产及验证全流程提供了有力支撑。在核心功能方面,探针台能够进行电性能测试与分析。晶圆切割前,它直接接触芯片电极,测量阈值电压、漏电流、跨导等200余项参数,为评估良品率和优化工艺设计提供依据。同时,支持单晶体管I-V曲线测量,可定位栅极氧化层厚度偏差,精度达0.2nm,为器件性能分析奠定数据基础。其纳米级定位与测量能力同样,定位精度达±0.1μm,能够满足5nm及以下制程芯片的...

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    2026

    1.26
  • 探针台的主要作用

    探针台是一种用于半导体芯片测试的设备。在探针台中,探针与芯片上的电路进行接触,以进行各种电气性能测试。这些测试包括电流、电压、电阻等参数的测量,以确保芯片在各种条件下都能正常工作。探针台的主要作用是将探针与芯片上的电路连接起来,以便进行电气性能测试。在测试过程中,探针台需要**控制探针的位置和姿态,以确保探针能够准确地对准芯片上的电路,并在测试过程中保持稳定的接触。此外,探针台还需要提供所需的测试信号和电源,以确保测试的准确性和可靠性。探针台通常由一个精密的机械臂和一个控制系...

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    2026

    1.23
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