当前位置:首页  >  技术文章  >  霍尔效应测试仪的构成及使用

霍尔效应测试仪的构成及使用

更新时间:2023-01-30 点击量:773

霍尔效应测试仪,是用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数,而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的,因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必*的工具。该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知*度。仪器轻巧方便,易于携带,主要用于量测电子材料之重要特性参数,如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或固体材料均可。本仪器系统由:电磁铁、高精度电源、高斯计、高精度恒流源、高精度电压表、霍尔探头、电缆、标准样品、样品安装架、系统软件等构成。您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技",就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速!

样品测试:

设置控制电流、磁场和霍尔片厚度,点击“开始测试"按钮,软件将完成一键测试过程,直至计算出所有霍尔参数。每次测试完后,可选择保存该计算结果值,然后点击“清除显示"按钮,以进入下一次测试。

若保持磁场大小不变,改变控制电流的大小,可通过画图操作观察Is 与 VH的关系;若保持控制电流大小不变,改变磁场的大小,可通过画图观察 B 与 VH 的关系。您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技",就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速!













联系方式

邮箱:gulong@jinzhengmaoyiqi.com 地址:北京市大兴区经济开发区金苑路2号1幢三层
咨询热线

86-010-82556022

(周一至周日9:00-19:00) 在线咨询
微信公众号
移动端浏览
北京锦正茂科技有限公司©2024版权所有    备案号: 技术支持:化工仪器网    管理登陆    sitemap.xml