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霍尔效应实验目的

更新时间:2023-03-11 点击量:422

霍尔效应实验目的

霍尔效应是电磁效应的一种,霍尔系数和电导率的测量已成为研究半导体材料的主要方法之一。霍尔效应实验是指为了解霍尔效应测量磁场原理而进行的实验。

实验的目的主要有:

1. 通过实验掌握霍尔效应基本原理,了解霍尔元件的基本结构;

2. 学会测量半导体材料的霍尔系数、电导率、迁移率等参数的实验方法和技术;

3. 学会用“对称测量法"消除副效应所产生的系统误差的实验方法。

4. 学习利用霍尔效应测量磁感应强度及磁场分布。

仪器与装置:霍尔效应实验仪

霍尔效应测试仪,是用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数,而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的,因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必*的工具。该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和*度。仪器轻巧方便,易于携带

可测试材料

半导体材料:SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和铁氧体材料低阻抗材料:石墨烯、金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR 材料高阻抗材料:半绝缘的 GaAs, GaN, CdTe

 



 


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