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两台高斯计测试同一磁体数据不同的原因

更新时间:2023-06-09 点击量:398

同一磁体用不同的高斯计/特斯拉计测量,测出数据不同的原因是:

1、不同探头内霍尔元件封装的位置不同,或元件不在探头两侧的中部。这些探头在均匀磁场中,不会因位置上的改变而感受到磁场的改变,测量数据也不会因位置的不同而带来误差。当用不同的探头去测磁体表面发散的、不均匀的磁场时,虽然表面看上去是放到了同一位置,而内部霍尔元件感受到的并不是同一位置的磁场。感受到的场值不同,测量结果当然不一样。一般,对于径向探头,厚度越小,内部霍尔元件离表面越近,测量表面磁场显示读数越大,采用超薄探头去测表面磁场时的读数可以高于常规探头20%以上(被测磁体尺寸越小,磁体表面曲率越大,表面磁场分布越不均匀,测量数据差别越大),但是无论多薄的探头,其内部对磁场敏感的部分与磁体表面总有一个间距,不可能为★距离。所以说,不可能测到真正的表面磁场。只能说,使用的探头越薄,读数越能反映出磁体的表面磁场。
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原因之二是:不同型号的霍尔探头内,所封装的霍尔元件敏感区尺寸不同。早期的体形霍尔元件,如锗、硅霍尔元件,尺寸一般为4×22也有6×328×42、最小为1.5×1.52,有效的敏感区基本上是元件本身的尺寸,面积大。若用这种霍尔元件来对磁力线发散的小磁体、磁体边角部分或多极充磁的表磁进行测量。仅能反映出通过该元件表面的磁感应强度的平均值。此值必定小于该区域的最大值。如果改用敏感区的小霍尔元件,如砷化镓霍尔元件,其敏感区的有效面积约为0.1×0.10.2×0.22远远小于体形元件的面积。这种元件就更能反映出表面磁场的场分布,所测到的最大值也更接近该区域的最大磁感应强度实际值。

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