当前位置:首页  >  技术文章  >  锦正茂科技 低温型霍尔效应测试系统

锦正茂科技 低温型霍尔效应测试系统

更新时间:2023-10-16 点击量:250

 低温型产品概述:

霍尔效应测试仪由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品、高低温杜瓦,控温仪,系统软件组成。为本仪器系统专门研制的JH10效应仪将恒流源,六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一体,大大减化了实验的连线与操作。JH10可单独做恒流源、微伏表使用。

用途:用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数,而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的,因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必*的工具。 实验结果由软件自动计算得到,可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)等。


联系方式

邮箱:gulong@jinzhengmaoyiqi.com 地址:北京市大兴区经济开发区金苑路2号1幢三层
咨询热线

86-010-82556022

(周一至周日9:00-19:00) 在线咨询
微信公众号
移动端浏览
北京锦正茂科技有限公司©2024版权所有    备案号: 技术支持:化工仪器网    管理登陆    sitemap.xml