电学测量设备：可以和各类源表、数字万用表等电学设备联用，测量电阻率、seebeck、l-V曲线等。
光谱仪：可以配合各种光谱仪使用，在低温环境下进行光谱测量时，能够提供稳定的低温环境，。
电磁铁：可以配合电磁铁使用，特别是在需要磁场环境下的实验中，能够提供稳定的低温磁场环境。
显微镜：可以配合显微镜使用，特别是在低温显微成像实验中，能够提供低温环境，满足特殊需求。
力学测试设备：可用于需要低温环境的力学测试中，如：与拉伸机配合在低温温条件下进行材料应力应变测试。
电学测量设备：可以和各类源表、数字万用表等电学设备联用，测量电阻率、seebeck、l-V曲线等。
光谱仪：可以配合各种光谱仪使用，在低温环境下进行光谱测量时，能够提供稳定的低温环境，。
电磁铁：可以配合电磁铁使用，特别是在需要磁场环境下的实验中，能够提供稳定的低温磁场环境。
显微镜：可以配合显微镜使用，特别是在低温显微成像实验中，能够提供低温环境，满足特殊需求。
力学测试设备：可用于需要低温环境的力学测试中，如：与拉伸机配合在低温温条件下进行材料应力应变测试。
