当前位置:首页  >  技术文章  >  高压探针台的技术原理及应用场景

高压探针台的技术原理及应用场景

更新时间:2026-01-19 点击量:9

高压探针台是一种用于高压环境下测试半导体器件、集成电路或其他电子元件电性能的专用设备,它通过探针与被测器件的接触,实现对器件内部电信号的**测量,是半导体制造、研发与质量控制过程中*备的工具。

技术原理

高压探针台的核心原理在于通过精密的机械定位系统,将探针准确放置在被测器件的指定测试点上,同时提供稳定的高压环境。其内部集成了高压电源、信号采集与分析系统,能够实时监测并记录测试过程中的电压、电流等关键参数。探针本身通常采用特殊材料制成,以确保在高压下仍能保持良好的导电性和接触稳定性。

应用场景

高压探针台广泛应用于半导体行业,特别是在功率器件(如IGBT、MOSFET)、高压集成电路以及传感器等产品的研发与生产阶段。在研发过程中,它可用于验证器件的高压耐受能力、漏电流等关键指标;在生产线上,则用于对成品进行抽检或全检,确保产品质量的稳定性。此外,高压探针台在航空航天、汽车电子等对可靠性要求*高的领域也有着重要应用。



联系方式

邮箱:gulong@jinzhengmaoyiqi.com 地址:北京市大兴区经济开发区金苑路2号1幢三层
咨询热线

86-010-82556022

(周一至周日9:00-19:00) 在线咨询
微信公众号
移动端浏览
北京锦正茂科技有限公司©2026版权所有    备案号: 技术支持:化工仪器网    管理登陆    sitemap.xml