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探针台的操作使用方式简介

更新时间:2023-01-30 点击量:697



1.将样品载入真空卡盘,开启真空阀门控制开关,使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。

2.使用卡盘X/Y轴控制旋钮移动卡盘平台,在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。

3.使用卡盘X/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。

4.显微镜切换为高倍率物镜,在大倍率下找到待测点,再微调显微镜聚焦和样品x-y,将影像调节清晰,带测点在显微镜视场中心。您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技",就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速!

5.待测点位置确认好后,再调节探针座的位置,将探针装上后可眼观先将探针移到接近待测点的位置旁边,再使用探针座X-Y-Z三个微调旋钮,慢慢的将探针移至被测点,此时动作要小心且缓慢,以防动作过大误伤芯片,当探针针尖悬空于被测点上空时,可先用Y轴旋钮将探针退后少许,再使用Z轴旋钮进行下针,最后则使用X轴旋钮左右滑动,观察是否有少许划痕,证明是否已经接触。

6.确保针尖和被测点接触良好后,则可以通过连接的测试设备开始测试。






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