晶圆测试是半导体生产中必不可*的环节，主要用于验证芯片在裸晶阶段的电气性能。探针台在这一过程中起到了至关重要的作用。具体应用包括：
晶圆级功能测试：探针台能够通过与晶圆上的测试点接触，测量每个芯片的电气性能。测试内容通常包括信号传输、电流和电压的测量等。通过这种测试，工程师可以发现潜在的制造缺陷，剔除有问题的芯片，提高整体良品率。
故障筛查：在生产过程中，部分芯片可能存在微小的功能性问题，探针台能够迅速进行筛查，定位问题区域。通过反复的测试与对比，操作员可以分析出哪些芯片需要进一步的处理，哪些芯片*全符合标准。
测试精度要求：随着芯片集成度的提升，测试点的间距越来越小，要求探针台具有更高的定位精度。现代探针台通过采用高精度的机械平台和探针控制系统，能够实现亚微米级别的精度，保证每次测试的准确性。
