芯片失效分析是芯片生产过程中另一项关键工作，旨在分析和诊断芯片在实际应用中出现故障的原因。探针台在芯片失效分析中发挥着重要作用，能够帮助工程师定位问题所在。具体应用如下：
故障定位与分析：在芯片出现功能异常时，探针台可通过电气测试帮助工程师定位故障点。通过比较故障芯片与正常芯片的电气信号差异，探针台能够找出导致芯片失效的原因，如电路开路、短路或材料缺陷等。
故障复现与诊断：通过对芯片不同工作状态下的测试，探针台能够帮助工程师复现故障现象。这对分析芯片故障的根本原因至关重要。通过不同环境条件（如温度、压力等）的模拟测试，探针台还能够进一步确认故障的具体原因。
多点测量：现代探针台配备了多点测量探针系统，能够同时对多个测试点进行测量。这样一来，工程师能够在短时间内对芯片的多个部分进行电气测试，快速发现问题，并有效节省了分析时间。
