探针台为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，探针台可吸附多种规格芯片，并提供多个可调测试针以及探针座，配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测，适用于对芯片进行科研分析，抽查测试等用途。
根据测试样品分类：晶圆测试、LED测试、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、太阳能电池片测试、材料表面电阻率测试。
根据应用分类：射频测试、高温环境测试、低电流（100fA *）测试、I-v/c-v/p-iv测试、高压，大电流测试、磁场环境测试、辐射环境测试、积分球测试。
