定制芯片测试设备高低温真空探针台 高低温真空环境下的芯片测试，材料测试，霍尔测试，电磁输运特性等。

电磁学测量仪器磁光克尔效应测量系统 可测试材料：记录磁头，磁性薄膜，特殊磁介质，磁场传感器

定制半导体材料测量设备JZM-D30室温探针台 该探针台和我司自主研发的*精度双极性恒流电源搭配使用，可以提高磁场的*稳*性。

磁性薄膜材料测量设备磁光克尔效应测量系统 手动左右和上下位移样品，可测试样品表面不同点的克尔效应，样品座有电接口，可加入磁电耦合测试。