半导体光电测试设备高低温探针台用于传感器 用于低温环境下的芯片、晶圆和器件的非破坏性电学测试。

科研实验室高低温探针台半导体测试仪器 可完成集成电路的电压、电流、电阻以及IV曲线等参数检测，用于低温环境下的芯片、晶圆和器件的非破坏性电学测试。

锦正茂科技 定制高低温探针台半导体测试 高低温探针台T8-LY100能够为半导体芯片的电学参数测试提供一个80K-420K高低温测试环境，通过外接不同的电学测量仪器，

实验测量仪器磁场探针台芯片测试半导体仪器 用于高低温真空环境下的芯片测试，材料测试，霍尔测试，电磁输运特性等。