变温霍尔测量系统组成：本仪器系统由永磁体、高精度恒流源高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品、高精度高斯计和系统软件组成。为本仪器系统专门研制的 JH10 效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。

教学霍尔测试仪 半导体材料电学测量 技术指标： 磁 场：10mm 间距为 2T 30mm 间距为 1T * 样品电流：0.05uA~50mA（调节 0.1nA） * 测量电压：0.1uV~30V * 提供各类测试标准材料，各级别硅与砷化镓（灵敏度与精度不同） * 小分辨率：0.1GS * 磁场范围：0-1T * 配合高斯计或数采板可计算机通讯

霍尔效应测试系统 高低温磁场型实验仪器 *精度电磁铁 极头直径 100mm N，S 间距 10mm 时大磁场 20000Gs N，S 间距 20mm 时大 13000 高斯 N, S 间距 30mm 时大磁场 10000 高斯 均匀区：间距 60mm 时直径 10mm 均匀度范围;1% 自重 210 公斤（含支架及轮子）

霍尔效应测试系统低温型测量仪JH60D 产品概述： 本仪器系统由：电磁铁、电磁铁电源、*精度恒流源*精度电压表、高斯计、霍尔效应样品支架、标准样品、系统软件。为本仪器系统专门研制的 JH10效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。