用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性*的工具。 霍尔效应测试系统 高阻型测试仪器

变温霍尔效应测试系统 半导体测试 由电磁铁、真空泵、高温真空腔、高斯计、恒流源、电磁铁电流源、控温仪和计算机及软件组成。其中，电磁铁电流源给电磁铁提供电流产生磁场；高斯计测量电磁铁产生的均匀磁场值；恒流源一方面给样品提供样品测试电流，用于霍尔效应测试，一方面用来测量样品反馈的霍尔电压；被测样品置于高温真空腔中，由高温胶固定

产品概述： 本仪器系统由：电磁铁、*精度电源、高斯计、*精度恒流源、*精度电压表、 霍尔探头、电缆、标准样品、样品安装架、系统软件。为本仪器系统专门研制的 JH10 效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍耳测量复杂的切矩阵开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。霍尔测试系统 非标定制实验仪器

定制真空磁场探针台测试系统半导体测试 北京锦正茂科技有限公司提供的一维 、二维 、三维磁场探针台，采用无磁材料制成，一维 、二维 、三维三对亥姆霍兹线圈正交放置，产生空间一维 、二维 、三维磁场。线圈可采用风冷（磁场较小）也可采用水冷结构（磁场较大），并且配备有线圈过热保护装置。和锦正茂生产的高精度双极性直流电源配合使用可以长时间稳定工作。