主要技术指标：※温度范围：室温—350℃（硅片上边温度）※控温精度：±1℃※温度分辨率：0.1℃※样品尺寸：8英寸（需要有固定夹具，还有10mmx10mm,20mmx20mm样品也需要考虑单独固定）※样品温度：精圆上单独放一个温度计，测量精圆表面温度（温度计封装在镀金无氧铜块内，铜块与精圆接触测温，使用比较细的软线方便移动与测量）※磁场强度：＞1000oe（样品测试处磁场）※持续工作时间：5小时※样品台尺寸：210mm（根据实际可更改，不小于8英寸），※样品台采...

锦正茂高低温真空探针台可进行真空环境下的高低温测试（4.2K~500K），可升级加载磁场，低温防辐射屏设计，样品台采用高纯度无氧铜制作，温度均匀性更好，温度传感器采用有着良好稳定性和重复性的PT100或者标定过的硅二极管作为测温装置，支持光纤光谱特性测试，兼容高倍率金相显微镜，可微调移动，器件的高频特性(支持频率上达67GHz)，探针热沉设计，LD/LED/PD的光强/波长测试，自动流量控制，材料/器件的IV/CV特性测试等。高低温真空探针台应用于高低温真空环境下的芯片测试，...

探针台探针与样品的接触方式根据应用场景及设备类型的不同，主要可分为以下几种形式：机械定位接触式通过X/Y/Z轴旋钮或移动手柄手动调节探针座位置，逐步将探针*端移动至待测点上方，再通过Z轴下压完成接触。此方式需结合显微镜观察，确保探针与样品表面精准对齐。在显微镜低倍物镜下定位样品后，切换高倍物镜微调待测点位置，再通过探针座三轴微调旋钮实现接触。利用机械手控制探针臂的移动，将探针*端**定位至半导体器件的Pad或晶圆测试点，通过压板下降建立电气连接。真空吸附固定式样品通过真空卡盘...

真空探针台是用于半导体晶圆测试的专用设备，通过构建高真空或特定温控环境实现芯片电参数精确测量。其核心功能为连接测试机与晶圆介质，通过微米级定位系统完成裸芯片电性测试及功能验证，在集成电路可靠性检测和失效分析中具有关键作用。该设备由真空腔体、精密定位系统、探针臂组件和环境控制系统构成，可实现-196℃至+675K宽温域测试。应用领域涵盖I/C-V测试、RF/PCB测试、光电器件分析等半导体测试全流程，并扩展至超导材料、热电器件等新型材料研究。在选购真空探针台的时候我们需要注意的...

探针台广泛应用于半导体、光电以及集成电路等行业，用于测试、调试和维修电子设备、电路板和芯片。探针台具有以下优势：1.能够确保相关产品研发的质量。2.能够有效缩短研发时间和资金成本。3.可以缩减器件的制作工艺成本。4.具有更加可靠和省时省力的优势，可以缩减器件的制作工艺成本。5.可以在真空条件下操作，提高了测试的准确度。6.具有高刚性的硅片承载台和高精度的探针控制系统，有效提高了测试精度。7.可选配接入光纤，可将一根或几根电学探针替换为光纤，提高了测试灵活性。8.具有优良的直流...

在现代材料科学与半导体技术的研究中，霍尔效应测试是评估材料电学性能的关键手段之一。它能够提供关于材料载流子浓度、迁移率以及电导率等重要参数的信息，对于新型材料的研发、器件的设计以及生产工艺的优化都有着重要的作用。然而，传统的霍尔效应测试设备在面对复杂环境和长时间连续测试时，往往会出现数据漂移、测量不准确等问题。为了解决这些问题，可变温霍尔效应测试仪应运而生，其高稳定性设计为长期连续测试提供了可靠的保障。可变温霍尔效应测试仪的核心优势在于其高稳定性设计。这种设计不仅体现在硬件的...

探针台的主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，探针台可吸附多种规格芯片，并提供多个可调测试针以及探针座，配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。适用于对芯片进行科研分析，抽查测试等用途。探针台的功能都有哪些？1.集成电路失效分析2.晶圆可靠性认证3.元器件特性量测4.塑性过程测试(材料特性分析)5.制程监控6.IC封装阶段打线品质测试7.液晶面板的特性测试8.印刷线路板的电性测试9.低噪音/低电流测试10.微波量测(高频)11...

移动样品后画面变模糊：原因可能是显微镜不垂直，需要调垂直显微镜样品台不水平：需要调水平样品台显微镜视场亮度不足，边缘切割或看不到像：原因可能是转换器不在定位位置上，需要把转换器转到定位位置上。管镜转盘不在定位位置上：需要把管镜转盘转到定位位置上照明的亮度不足：需要调节光源亮度或者把孔径光栏孔调大没有装目镜：需要装上目镜没有装物镜：需要装上物镜显微镜像质变差：原因可能是目镜脏物镜脏管镜脏，需要对目镜，物镜，管镜脏的地方进行清洁孔径光栏关的太大或者太小：需要调节孔径光栏没有调好焦...