本电源为高稳定度的双极性恒流电源,广泛应用于电磁铁、亥姆霍兹线圈等感性负载的励磁。电源采用线性电源结构,输出电流稳定度高,纹波和噪声低。电源输出电流可在正负额定电流*值之间连续变化,电流平滑连续过零,可使电磁铁或线圈产生平滑、稳定的磁场。配合本公司的高精度高斯计和探头(选件),电...
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10.30真空探针台是用于半导体晶圆测试的专用设备,通过构建高真空或特定温控环境实现芯片电参数精确测量。其核心功能为连接测试机与晶圆介质,通过微米级定位系统完成裸芯片电性测试及功能验证,在集成电路可靠性检测和失效分析中具有关键作用。该设备由真空腔体、精密定位系统、探针臂组件和环境控制系统构成,可实现-196℃至+675K宽温域测试。应用领域涵盖I/C-V测试、RF/PCB测试、光电器件分析等半导体测试全流程,并扩展至超导材料、热电器件等新型材料研究。在选购真空探针台的时候我们需要注意的...
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10.13探针台广泛应用于半导体、光电以及集成电路等行业,用于测试、调试和维修电子设备、电路板和芯片。探针台具有以下优势:1.能够确保相关产品研发的质量。2.能够有效缩短研发时间和资金成本。3.可以缩减器件的制作工艺成本。4.具有更加可靠和省时省力的优势,可以缩减器件的制作工艺成本。5.可以在真空条件下操作,提高了测试的准确度。6.具有高刚性的硅片承载台和高精度的探针控制系统,有效提高了测试精度。7.可选配接入光纤,可将一根或几根电学探针替换为光纤,提高了测试灵活性。8.具有优良的直流...
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10.13在现代材料科学与半导体技术的研究中,霍尔效应测试是评估材料电学性能的关键手段之一。它能够提供关于材料载流子浓度、迁移率以及电导率等重要参数的信息,对于新型材料的研发、器件的设计以及生产工艺的优化都有着重要的作用。然而,传统的霍尔效应测试设备在面对复杂环境和长时间连续测试时,往往会出现数据漂移、测量不准确等问题。为了解决这些问题,可变温霍尔效应测试仪应运而生,其高稳定性设计为长期连续测试提供了可靠的保障。可变温霍尔效应测试仪的核心优势在于其高稳定性设计。这种设计不仅体现在硬件的...
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10.11探针台的主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台,探针台可吸附多种规格芯片,并提供多个可调测试针以及探针座,配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。适用于对芯片进行科研分析,抽查测试等用途。探针台的功能都有哪些?1.集成电路失效分析2.晶圆可靠性认证3.元器件特性量测4.塑性过程测试(材料特性分析)5.制程监控6.IC封装阶段打线品质测试7.液晶面板的特性测试8.印刷线路板的电性测试9.低噪音/低电流测试10.微波量测(高频)11...
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10.9移动样品后画面变模糊:原因可能是显微镜不垂直,需要调垂直显微镜样品台不水平:需要调水平样品台显微镜视场亮度不足,边缘切割或看不到像:原因可能是转换器不在定位位置上,需要把转换器转到定位位置上。管镜转盘不在定位位置上:需要把管镜转盘转到定位位置上照明的亮度不足:需要调节光源亮度或者把孔径光栏孔调大没有装目镜:需要装上目镜没有装物镜:需要装上物镜显微镜像质变差:原因可能是目镜脏物镜脏管镜脏,需要对目镜,物镜,管镜脏的地方进行清洁孔径光栏关的太大或者太小:需要调节孔径光栏没有调好焦...
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10.9锦正茂高低温真空磁场探针台探针台配备4个(可选6个或8个)拥有高精度位移的探针臂,同时配有高精度电子显微镜,便于微小样品的观察操作。探针可通过直流或者低频交流信号,用来测试芯片、晶圆片、封装器件等,广泛应用于半导体工业、MEMS、超导、电子学、铁电子学、物理学、材料学和生物医学等领域。测试范围:磁特性测试、微波特性测试、直流、RF特性测试,微电子机械系统,超导电性测试,纳米电路的光电属性,量子点和线,高低温真空环境下的芯片测试,材料测试,霍尔测试,电磁输运特性等。技术指标:型...
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9.29高低温探针台是一种用于材料科学、物理、化学等领域的实验设备,主要用于在高温和低温环境下对材料进行各种实验和研究。工作原理是将样品放置在加热和冷却组件上,然后使用各种测量仪器对其进行实验和测量。具体来说,其工作流程如下:将样品放置在加热和冷却组件上;启动加热系统,将样品加热到所需的温度;启动制冷系统,将冷却组件降温到所需的温度;通过各种测量仪器对样品进行实验和测量;记录实验数据并进行分析和处理;结束实验后,关闭加热和制冷系统,并解除真空状态,取出样品。总之,高低温探针台是一种非...
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9.27手动探针台是一种手动控制的探针台,通常用于没有很多待测器件需要测量或数据需要收集的情况下。该类探针台的优点是灵活、可变性高,易于配置环境和转换测试环境,并且不需要涉及额外培训和设置时间的电子设备、PC或软件。手动探针台系统只需要少量的培训,因此非常适合研发人员使用。1.将样品载入真空卡盘,开启真空阀门控制开关,使样品**且牢固地吸附在卡盘上。2.使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台,在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。3.使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移...
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