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磁光克尔效应的测量方法
磁光克尔效应的测量方法

磁光克尔效应(MOKE)测量基于材料磁化状态与反射光偏振态变化的关联性,通过精密光学系统与磁场控制实现磁学参数的动态检测。以下综合测量原理、系统配置及操作流程进行说明:一、基本原理与分类1、‌偏振态变化检测‌线偏振光入射至磁性材料表面后,反射光偏振面因材料磁化方向产生旋转(克尔旋...

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2025

5.13
  • 两台高斯计测试同一磁体数据不同的原因

    同一磁体用不同的高斯计/特斯拉计测量,测出数据不同的原因是:1、不同探头内霍尔元件封装的位置不同,或元件不在探头两侧的中部。这些探头在均匀磁场中,不会因位置上的改变而感受到磁场的改变,测量数据也不会因位置的不同而带来误差。当用不同的探头去测磁体表面发散的、不均匀的磁场时,虽然表面看上去是放到了同一位置,而内部霍尔元件感受到的并不是同一位置的磁场。感受到的场值不同,测量结果当然不一样。一般,对于径向探头,厚度越小,内部霍尔元件离表面越近,测量表面磁场显示读数越大,采用超薄探头去...

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    2023

    6.9
  • 不同规格的磁场线圈适用领域

    磁场线圈基于毕奥-萨法尔定律,以绕组中通电流的形式复现磁场的线圈,用于复现标准磁场,是弱磁场计量测试领域最主要的标准器具之一。按所复现的磁场类型可分为恒定磁场线圈、交变磁场线圈、梯度磁场线圈、脉冲磁场线圈等,按结构可分为螺线管线圈、亥姆霍兹线圈及其他各种组合磁场线圈等,按磁场方向可分为一维磁场线圈、二维磁场线圈、三维磁场线圈等。磁场线圈。应用领域:弱磁场计量标准装置、磁传感器校准与测试系统、空间磁场模拟系统等计量测试领域。亥姆霍兹线圈根据产生磁场轴数分类为一维亥姆霍兹霍兹线圈...

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    2023

    6.7
  • 真空射频同轴连接器SMA-KYK2的技术参数

    SMA-KYK2适用的频率范围为0~18GHz,是超小型的、适合半硬或者柔软射频同轴电缆的连接,具有尺寸小、性能*、可靠性高、使用寿命长等特点,是应用极为广泛的射频同轴连接器之一。但是超小型的接头在工程中容易被损坏,适合要求高性能的微波应用场合,如微波设备的内部连接。主要性能指标:温度范围:-55~+165°C(PECable-40~+85°C)特性阻抗:50Ω频率范围:0~18GHz工作电压:335V(50Ω)r.m.s在海平面上耐压:1000V(50Ω)r.m.s在海平面...

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    2023

    6.7
  • 硬磁材料和软磁材料的区分

    高斯计一般是用来测试一些磁性材料的磁通量的仪器。为了更好的选择合适的产品,我们有必要了解一下哪些是硬磁材料,哪些是软磁材料?高斯计的测试对象一:硬磁材料永磁功能材料常称永磁材料,又称硬磁材料,而软磁功能材料常称软磁材料。这里的硬和软并不是指力学性能上的硬和软,而是指磁学性能上的硬和软。1.磁性硬是指磁性材料经过外加磁场磁化以后能长期保留其强磁性(简称磁性),其特征是矫顽力(矫顽磁场)高。矫顽力是磁性材料经过磁化以后再经过退磁使具剩余磁性(剩余磁通密度或剩余磁化强度)降低到零的...

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    2023

    6.5
  • VSM仪器工作原理

    如果将一个开路磁体置于磁场中,则此样品外一定距离的探测线圈感应到的磁通可被视作外磁化场及由该样品带来的扰动之和。多数情况下测量者更关心的是这个扰动量。例如,可以让被测样品以一定方式振动,探测线圈感应到的样品磁通信号因此不断快速的交变,保持环境磁场等其他量不做任何变化,即可实现这一目的,这是一种用交流信号完成对磁性材料直流磁特性测量的方法。振动样品磁强计(VibratingSampleMagnetometer)是基于电磁感应原理制成的仪器。VSM是一种高灵敏度的磁矩测量仪器,测...

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    2023

    6.5
  • 真空热压烧结炉JZM-1200技术参数一览表

    真空热压烧结炉是将真空、气氛、热压成型、高温烧结结合在一起设备,适用于粉末冶金、功能陶瓷等新材料的高温热成型。如应用于透明陶瓷、工业陶瓷等金属以及由难容金属组成的合金材料的真空烧结以及陶瓷材料碳化硅和氮化硅的高温烧结,也可用于粉末和压坯在低于主要组分熔点的温度下的热处理,目的在于通过颗粒间的冶金结合以提高其强度。型号JZM-1200功率160W加热区尺寸(mm)Φ90×110(mm)样品区尺寸(mm)Φ12×70(mm可定制)外形尺寸140*115*145(L...

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    2023

    6.2
  • 探针台是怎样工作的

    探针台可以固定晶圆或芯片,并精确定位待测物。手动探针台的使用者将探针臂和探针安装到操纵器中,并使用显微镜将探针★端放置到待测物上的正确位置。一旦所有探针★端都被设置在正确的位置,就可以对待测物进行测试。对于带有多个芯片的晶圆,使用者可以抬起压盘,压盘将探针头与芯片分开,然后将工作台移到下一个芯片上,使用显微镜找到精确的位置,压板降低后下一个芯片可以进行测试。半自动和全自动探针台系统使用机械化工作台和机器视觉来自动化这个移动过程,提高了探针台生产率。

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    2023

    6.2
  • 探针台的维护方法

    探针台,是我们半导体实验室电学性能测试的常用设备,也是各大实验室以及芯片设计、封装测试的熟客。设备具备各项优势,高性能低成本,用途广,操作方便,在不同测试环境下,测试结果稳定,客观,深受工程师们的青睐。那么,探针台在使用完毕后怎样维护呢?探针台使用后的存放相关介绍1:使用完后需要注意保持清洁,尽量把灰尘吹干尽,以免灰尘将机械精密部件,光学部件,电学接触面污染,导致仪器精度降低。2:探针台机体清洁时,避免直接泼水清理,以无尘布轻轻擦拭并吹干即可。不可用硬物接触机器,以免发生故障...

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    2023

    5.31
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